La inspección de rayos X es utilizar la tecnología de imágenes de rayos X para obtener la estructura interna del objeto de prueba, y luego observar la información interna del objeto de prueba sin romper el objeto de prueba.

Se utiliza principalmente para el juicio de autenticidad y el análisis de fallas de los componentes.Es un método reconocido internacionalmente para el juicio de autenticidad de chip y el análisis y la detección de fallas.

La tecnología de detección de rayos X tiene las ventajas de velocidad rápida, no destructiva y de bajo costo en la detección de autenticidad de chips.

Detección de falla de chip:

A través de imágenes de rayos X, observe visualmente los defectos internos, el pelado, el estallido, los vacíos, etc. del chip, y ayuden a juzgar la falla del chip.

Juicio de autenticidad de chip:

La autenticidad se puede juzgar comparando el marco, el grano, el cable de plomo y otros elementos en el diagrama de rayos X de la pieza de prueba con el chip estándar;